美國TSI公司于2016年8月12-14日，參加了在四川省成都市舉辦的“中國顆粒學(xué)會(huì)第九屆學(xué)術(shù)年會(huì)暨海峽兩岸顆粒技術(shù)研討會(huì)”。本屆會(huì)議由中國顆粒學(xué)會(huì)主辦、中國顆粒學(xué)會(huì)超顆粒專委會(huì)協(xié)辦，500多位來自海峽兩岸從事顆粒技術(shù)研究的專家學(xué)者、工程技術(shù)人員、企業(yè)界代表等齊聚一堂，暢談國內(nèi)外顆粒學(xué)研究與技術(shù)的最新進(jìn)展，探討顆粒行業(yè)產(chǎn)、學(xué)、研、銷等領(lǐng)域如何更好對(duì)接。

 

美國TSI公司于會(huì)上針對(duì)“1nm大氣顆粒物的測(cè)量”做了主題報(bào)告，并展示了以下多種氣溶膠檢測(cè)技術(shù)和設(shè)備。

 

1、TSI最新推出的SMPS™ 掃描電遷移粒徑譜儀，被廣泛用于測(cè)量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。選配3777型納米增強(qiáng)儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后，SMPS粒徑譜儀能夠測(cè)量納米的粒徑范圍擴(kuò)展至1nm。

2、3321 空氣動(dòng)力學(xué)粒徑譜儀(APS™) 提供0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實(shí)時(shí)空氣動(dòng)力學(xué)檢測(cè)。這些獨(dú)特的粒徑分析儀還檢測(cè)0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強(qiáng)度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對(duì)數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。

3、TSI 3330型光學(xué)顆粒物粒徑譜儀簡(jiǎn)單輕便，能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進(jìn)行快速和準(zhǔn)確的測(cè)量。基于TSI公司40年氣溶膠儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強(qiáng)度和精密的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。同時(shí)，TSI工廠嚴(yán)格的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)也確保儀器的精確性。該產(chǎn)品是廣大環(huán)境研究機(jī)構(gòu)和環(huán)境監(jiān)測(cè)部門進(jìn)行顆粒物監(jiān)測(cè)分析和源解析的最佳儀器。

 

 

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